表面形貌测试 - 结构及材料表征分析 - 微纳设计制造-苏州硅时代电子科技有限公司

表面形貌测试

探针式表面轮廓仪：
P-7 是KLA公司的第八代探针式台阶仪系统，历经技术积累和不断迭代更新，集合众多技术优势。P-7建立在市场P-17台式探针轮廓分析系统的成功基础之上。它保持了P-17技术的卓越测量性能，并作为台式探针轮廓仪平台提供了极高的性价比。 P-7可以对台阶高度、粗糙度、翘曲度和应力进行2D和3D测量，其扫描可达150mm而无需图像拼接。
主要功能
台阶高度：几纳米至1000μm
微力恒力控制：0.03至50mg
样品全直径扫描，无需图像拼接 ? 视频：500万像素高分辨率彩色摄像机
圆弧校正：消除由于探针的弧形运动引起的误差
生产能力：通过测序，模式识别和SECS / GEM实现全自动化

新闻
公司新闻

联系我们
联系电话：0512-62996316
传真地址：0512-62996316
邮箱地址：sales@si-era.com
公司地址：中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区——苏州工业园区金鸡湖大道99号纳米城西北区09栋402室
关注与分析

微特云办公系统微纳制造 MEMS设计

电话：15301560529

一键拨号一键导航